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液晶高阻四探针测试仪四探针法测试高阻值材料方阻及电阻率,可以测试到10^10Ω方阻值,液晶显示,芯片控制,恒流输出,四探针双位测量、参考美国A.S.T.M标准。中或英文语言版本.
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恒流低阻双电四探针测试仪器四探针法测试低阻材料方阻及电阻率,可以测试到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流输出,液晶显示,自动数据测量,系数补偿,参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量.提供中文或英文语言版本.
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四探针液晶电阻率测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计参考国标单晶硅物理测试方法及A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.
四探针方阻电阻率测试仪用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品