方块电阻测试仪 四探针方块电阻测试仪 半导体方块电阻测量仪
型号:DL10-GT14-ST-21
详细说明
方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
特 点
* 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定;
* 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
* 采用单个干电池供电,带电池欠压指示;
* 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
* 轻便手持式设计操作、测试简便; *.特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜;
* 带探头与被测物质接触良好指示(LED) 、探头带抗静电模块;
* 单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便;
技 术 指 标
1. 测量范围:
按方块电阻量值大小分为二个量程档:
○1 1.00~199.99Ω/□;
○2 10.0~1999.9Ω/□;
2. 恒流源:
测量过程误差:≤±0.8%;
3. 模数转换器:
量程:0~199.99mv;
分辨率:10μv;
方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;
4. 测量不确定度:
在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
5. 四探针头:
间距:1mm或3.8mm可选,偏差:≤2%;
针间绝缘电阻≥500MΩ;
6. 电源:9V叠层电池1节